天瑞参与编制《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》国家标准
发布日期：2011-11-21 点击次数： 2569
11月19日，国家标准《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》（以下简称《性能测试方法》）编制启动会在天瑞仪器召开。四川材料与工艺研究所、成都理工大学及天瑞仪器作为编制三方，均出席了本次启动会，并完成了对标准的初稿审查。
《性能测试方法》是由核仪器仪表标准化技术委员会主导，四川材料与工艺研究所杨明太研究员负责撰写。四川材料与工艺研究所质量处处长郑刚、质量科科长雷洪波、研究员杨明太、研究室主任邹乐西、成都理工大学信息学院副院长方方教授等，与天瑞仪器总经理应刚、应用研发中心主任姚栋梁博士、研发一部副部长周晓辉、张波等，共同对该标准制定进行深入探讨。
启动会上，三方就《性能测试方法》标准编制的流程、时间节点、注意事项等进一步细化洽谈，并完成对标准初稿的审查及修订。同时也正式签署合作意见书。
来宾在总经理应刚的陪同下，依次对天瑞产品展厅、化学实验室、前处理实验室、产品生产线、研发实验室等区域进行详细考察。他们表示，天瑞仪器规范、强大的生产、品质管理系统，让他们印象深刻；但更为惊喜的是，天瑞作为仪器厂商，能有独立的化学及前处理实验室，足以证明对研发及应用的重视。
标准编制启动会现场
合影留念
