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天瑞参与编制《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》国家标准

发布日期:2011-11-21  点击次数: 2527

11月19日,国家标准《能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法》(以下简称《性能测试方法》)编制启动会在天瑞仪器召开。四川材料与工艺研究所、成都理工大学及天瑞仪器作为编制三方,均出席了本次启动会,并完成了对标准的初稿审查。

《性能测试方法》是由核仪器仪表标准化技术委员会主导,四川材料与工艺研究所杨明太研究员负责撰写。四川材料与工艺研究所质量处处长郑刚、质量科科长雷洪波、研究员杨明太、研究室主任邹乐西、成都理工大学信息学院副院长方方教授等,与天瑞仪器总经理应刚、应用研发中心主任姚栋梁博士、研发一部副部长周晓辉、张波等,共同对该标准制定进行深入探讨。

启动会上,三方就《性能测试方法》标准编制的流程、时间节点、注意事项等进一步细化洽谈,并完成对标准初稿的审查及修订。同时也正式签署合作意见书。

来宾在总经理应刚的陪同下,依次对天瑞产品展厅、化学实验室、前处理实验室、产品生产线、研发实验室等区域进行详细考察。他们表示,天瑞仪器规范、强大的生产、品质管理系统,让他们印象深刻;但更为惊喜的是,天瑞作为仪器厂商,能有独立的化学及前处理实验室,足以证明对研发及应用的重视。

标准编制启动会现场

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