新一代镀层测厚仪Thick800A取得重大技术突破
发布日期：2009-09-25 点击次数： 843
急讯：天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展，已于同类仪器水平。
镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求，不过目前国内外行业技术水平都未能达到市场需求标准，作为国内镀层测试企业的行业龙头，天瑞仪器一直以满足市场客户需求为目标，致力于新技术的研究和新产品的更新换代。
在此之前，国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品，同类仪器如不借助于透镜聚焦也仅仅只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A，测试精度目标已直指0.2mm以下。
在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、引导并时刻关注下，企业常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌挂帅负责此项目的研发工作，我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析，摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术，并应用了几项本企业的发明专利，终于攻克技术难关，取得了突破性进展。据对比测试结果分析，国外同类测试仪器小测试光斑为0.2-0.22mm，我司研制推出的新一代Thick 800A小测试光斑仅为0.15-0.18mm，天瑞仪器镀层测厚仪已处于同类产品中水平。
为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求，本研发成果取得成功后马上转入产品调试、应用阶段，目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产，迟在本月底前揭开而绚丽的面纱，和广大客户如期会面。
