庆祝天瑞仪器科学技术成果鉴定会胜利召开
发布日期：2008-03-24 点击次数： 596
2008年3月21日，中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京主持召开了江苏天瑞信息技术有限企业研制生产的“便携式、智能化X射线荧光光谱仪”技术鉴定会。会议主要针对天瑞仪器近研制出的新产品EDX-Pocket-Ⅱ召开。该仪器在2008中国科学仪器发展年会上荣获新产品大奖。
鉴定会上，委员会听取了天瑞信息技术有限企业董事长刘召贵博士所做的技术报告，并对所提供的资料进行了审核。经过讨论，形成以下鉴定意见：
1、该仪器的核心部件--探测器系具有自主常识产权的先进技术，保证了仪器的精度与现场分析的需要。
2、该产品设计了具有防辐射功能的屏蔽罩，使辐射剂量符合规定，保障使用者的。
3、采用蓝牙技术传输，配合人性化的测试App，使本仪器具有使用方便、灵活的特点。
4、功耗低、重量轻、体积小，外观设计美观大方。
鉴定委员会认为，天瑞仪器整体技术水平达到国内同行的先进水平。
本次鉴定委员会成员有：中国工程院院士金国藩先生、中科院电工研究所院士姚骏恩先生、中国仪器仪表学会分析仪器分会研究员闫成德先生、清华大学化学系教授邓勃先生、中科院物理研究所研究员麦振洪先生和北京市化工研究院工程师尹洧先生。
鉴定会现场
董事长刘召贵博士做技术报告
鉴定委员会专家相互讨论
